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HAST試驗箱不飽和型 壓力老化箱 HAST試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的密封性和老化性能

HAST高溫高濕高壓老化箱 HAST試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的密封性和老化性能，廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。

HAST壽命試驗箱 高加速溫度和濕度壓力 HAST 壽命試驗箱，又稱高壓加速老化試驗箱，主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性。在設定的溫度、相對濕度和壓力條件下，將待測樣品暴露于非冷凝的高溫高濕環境中，以加速其老化過程。通過準確控制試驗箱內的環境參數，可以在短時間內模擬出產品可能經歷的數十年甚至更長時間的自然老化過程。

PCT 高壓加速老化試驗箱 氣壓濕度款 具有模擬大氣環境中溫度變化規律。主要針對于電工，電子產品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環境下運輸，使用時的適應性試驗。用于產品設計，改進，鑒定及檢驗等環節。

HAST試驗箱不飽和型 該設備主要是測試產品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗， 主要用于對 電工、電子產品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對產品的物理 以及其它相關性能進行測試，測試后，通過檢定來判斷產品的性能是否能夠達到要求，以便供產品的設計、改進、 檢定及出廠檢驗使用。密封性能的檢測，相關之產品作加速